稀土复合薄膜的制备及其微摩擦学性能

在羟基化的单晶硅片上制备了3-巯丙基三甲氧基硅烷-稀土（MPTS-RE）复合薄膜。利用接触角测量仪、X射线光电子能谱仪（XPS）分析了MPTS-RE复合薄膜接触角及其表面典型化学元素的状态；运用原子力显微镜（AFM）观察了MPTS-RE复合薄膜的表面形貌并研究了其微摩擦学性能。结果表明：稀土成功组装到磺化后的MPTS薄膜表面；随着探针的滑动速率和载荷的增加，针尖与样品间摩擦力增加；硅基片和MPTS-RE复合薄膜表面的黏附力随着相对湿度的增加而增加；MPTS-RE复合薄膜具有较低的摩擦系数和黏附力。