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DOI: 10.6052/1000-0992-1999-419, PP. 43-44
Keywords: 白光散斑剪切干涉,统计特性,位移导数,粗糙度,相干域
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本文从散斑统计光学的基本原理出发,以随机过程理论为工具,进一步阐述了白光散斑剪切干涉术的统计特性,指出物面粗糙度和物面相干域应满足的一般条件,并对一般条件进行了实验验证,结果表明理论与实验保持一致
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