倍增云纹的显微测量及密集云纹场的应变测算
DOI: 10.6052/0459-1879-1987-1-1987-012, PP. 87-93
Keywords: 倍增云纹,云纹场,显微测量,光学空间滤波
Abstract:
为了提高云纹法的准确度,文中提出了使倍增后的云纹宽度变细并进行显微测量的技术,以及由密集云纹场测算应变的条纹间距插值和小间距均匀法。给出了估计由此法算得的应变的误差及其修正方法。所做的曲杆实验其数据与理论值符合得很好。文中还将云纹法中闪耀光栅与振幅栅相匹配的光学空间滤波系统改进为实时系统,导出其条纹倍增率及云纹图的最佳对比度条件。
Full-Text