录像磁带磁层缺陷的研究

一、前言录像磁带磁层的缺陷可以造成磁带的信号失录单位时间内失录数目的多少是衡量录像磁带质量好坏的一个重要参数。因此已有不少人采用不同方法对磁带磁层的缺陷进行了研究,探索缺陷形成的各种原因,以便尽量减少磁层的缺陷。主要的方法有用光学显微镜、扫描电子显微镜直接观察磁层的缺陷和从录像磁带失录信号的波形去分析磁层的缺陷等。