不同蚀刻条件下揭示的锆石裂变径迹的角分布

在开发裂变径迹定年的矿物蚀刻技术中发现,同一矿物不同的晶面的体蚀刻速度不同,因而径迹形态不同。后来又发现,甚至同一晶面也存在着各向异性的现象,即垂直于C晶轴的径迹易蚀刻,而平行于C轴的径迹较难蚀刻。这就有可能造成丢失径迹,而使径迹密度偏低,