高精度光学经纬仪

中国科学院光学精密机械仪器研究所于八月底試制成功了我国第一台0.2″光学經緯仪,从开始設計到試制完成一共不到十个月。經过鑑定,这台仪器性能良好。0.2″光学經緯仪是一种高精度光学經緯仪,它可以用于大地二等三角测量和精密导綫測量、精密工程測量,在国民經济建設事业中有着广泛的应用。高精度光学經緯仪不同于金属經緯仪,它具有較小的体积,重量輕,封閉性好,特別是讀数操作非常便利,可以大大減少測量作业的时間。研究試制工作是根据国外同类型产品进行比較改进而設計的。它比国外仪器具有更好的封閉性和大口径高倍率的望远鏡系統,簡化了水平軸系統的結构。在零件加工工艺上曾經解决了一系列困难的問題,如(1)度盘刻划中解决了直径为140毫米玻璃度盘的刻划技术問題,不但使刻划直径誤差降低到0.85′