椭圆偏振技术对电分析化学中氧化还原反应的研究

椭圆法利用椭圆偏振光在固体表面薄膜上反射后偏振状态的改变以测定膜厚和光学常数,早已用于半导体物理、腐蚀与表面学科以及电化学等领域。应用这一技术的困难是需要提出代表真实体系的模型。作者等针对这一困难,曾提出代表真实体系光学参量△和ψ的总变