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, PP. 1113-1126
Keywords: 单分子力谱,AFM,纳米技术,超分子结构
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基于原子力显微镜技术的单分子力谱是研究高分子体系中的分子内与分子间相互作用,进而揭示其超分子结构的本质及动态过程的一种新型纳米表征技术.结合我们近期的研究工作,概述了单分子力谱的工作原理及单分子拉伸的判断标准,讨论了单分子力学谱与超分子结构、高分子界面吸附形态与力谱形状、分子间特异性相互作用的直接测量等,并对该领域的未来发展作了展望.
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