质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素

质子激发X射线分析(PIXE)是七十年代发展起来的新的元素分析工具[1]。它的特点是以几兆电子伏质子束激发X射线,并以Si(Li)半导体探测器进行X射线能谱测量。由于质子激发X射线的截面较高,而其韧致辐射又很低,故具有较高的灵敏度;Si(Li)探测器有较好的能量分辨率和较高的探测效率,因此PIXE可同时进行多元素的分析。所以,PIXE能发展为一种快速、灵敏和多元素的分析方法。