反平面剪切状态下压电-压磁夹层结构的圣维南端部效应

本文研究电磁材料层合板圣维南末端效应的衰减特征。考虑压电和压磁构成的三层结构层合板，主要目的是揭示边界条件和材料性能对衰减特性的影响，结果表明，压电压磁性能及边界条件对衰减率有明显影响。