切花菊‘长紫’辐照后代减数分裂行为及ISSR遗传变异分析

通过细胞学和分子标记技术对切花菊‘长紫’辐照后代进行分析，探讨辐射诱变机理，为菊花辐射育种提供理论依据。结果发现，辐照后代在减数分裂后期Ⅰ和后期Ⅱ出现落后染色体和染色体桥的异常率明显高于空白对照，且随着剂量升高异常率增加，两种异常现象发生的最高比率后期Ⅰ分别为9.0%和11.3%，后期Ⅱ为15.5%和8.6%。用21个ISSR引物扩增得到多态性条带112条，多态性比率71.3%，表明DNA在不同程度上发生了变异。通过UPGMA法将它们分为5类，聚类结果基本上与花型和花色的变异类型相关。