微机用于柱色谱条件的优化选择——正交试验设计及方差分析评价

多因素的“正交试验设计”,能用较少的试验次数获得尽可能全面的信息,且能在各因素都变化的条件下比较并较快地找到好的试验点,因而也被用于分析测试的条件选择。试验结果用方差分析可以判断各因素影响的大小和确定控制因素,但手工计算十分费时,应用微型计算机可以解决繁复的数字运算。 我们利用正交表L_(18)(2~1×3~7)安排试验,选择微粒填充柱色谱的最佳操作条件,