压力对NaAlSiO熔体结构影响的实验研究

通过对NaAlSi3O8熔体的玻璃进行Raman光谱研究,发现随着压力升高(105Pa～2.0GPa),(1)低频区(50～650cm-1)不断变窄并向高频方向移动;(2)高频区(850～1300cm-1)不断变窄且向低频区方向移动;(3)580cm-1谱峰强度不断减弱,并在(0.8～1.0)GPa时最为显著.这是因为随着压力升高T-O-T(T=Si,Al)键角(θ)不断减小,并且分布范围变窄;而580cm-1谱峰的变化则由于在(0.8～1.0)GPa时包含Si,Al的平面三元环结构的"垮塌”造成的.钠长石熔体结构随压力升高的这种变化特征为其粘度变化所证实.