用AEM与EPMA联合分析超显微金

卡林型金矿中微细粒金的赋存状态研究一直是国际性的前沿课题。特别是对于电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)难以分析的小于0.1/μm的超微粒金因受仪器分辨本领和分析方法的限制一直很难直接观察到金的赋存状态。尽管目前已有学者采用了成分探测限比EPMA或分析透射电镜(AEM)高10~2—10~4的质子探针(PIXE)和同步辐射X射线荧光分析器(SXRF)来分析金矿石,但由于它们较低的空间分辨率(几微米至几十微米)仍不