多光谱成像

美国专利US7420678 (2008年9月2日授权)对于某些应用来说,现有的成像系统并不是最佳的。例如,为了准确地测定一个物体(例如处于空间中的一个物体)的一种或多种材料特性,现有的系统可能会提供太多或者太少的图像信息。如果图像信息不足,就115