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ISSN: 2333-9721
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红外  2005 

红外校正系统[美国专利US6825470 (2004年11月30日授权)]

Keywords: 列阵,红外辐射,图像信号,硅基,US,器件,失真,授权,成像系统,出图

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Abstract:

硅基器件一般是敏感波长最长达1200nm的光的.如果红外辐射被允许进入列阵,那么该列阵便会对红外辐射产生响应,从而产生一个输出图像信号。由于成像系统的一个目的是产生可见光图像,红外辐射的引入便会使其产生的图像发生失真。

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