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Keywords: 透镜,红外摄像,机用,非致冷焦平面,红外成像系统,列阵探测器,红外成像仪,金刚石切削
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美国专利US7187505 (2007年3月6日授权)用于3μm~5μm和8μm~14μm红外谱区的非致冷焦平面列阵探测器的问世,已使得工作于这些谱区的红外成像仪的成本、重量和复杂程度大为降低。对于这些红外成像系统来说,剩余的高成本及重量问题便在它
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