上海技术物理所研制成功IR-2型双波段发射率测量仪

发射率是材料热物性的基本参数之一．近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测温、太阳能研究、材料科学以及军事目标隐身技术的发展，人们对用于研究材料发射率的测量装置的需求越来越大，对所需发射率测量装置测量精度的要求也越来越高．为了满足这一需求，中国科学院上海技术物理研究所科研人员在其前几年研制的IR-1型发射率测量仪的基础上，最近又研制成功了IR-2型双波段发射率测量仪．