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OALib Journal期刊
ISSN: 2333-9721
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FAILURE AND FEM ANALYSIS OF INDIUM SOLDER-BUMPS OF HgCdTe DETECTORS
HgCdTe探测器In焊凸点的失效及有限元分析

Keywords: IR detector,Indium solder-bump,thermal cycle,failure,FEM
红外探测器
,In焊凸点,温度循环,失效,有限元方法

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Abstract:

卫星工作时,由斯特林机致冷的HgCdTe中长波红外探测器会经受从-173℃以下到常温的成千上万次温度循环.由于不同材料的热膨胀系数(TEC)不匹配,这样就会造成电极封装的疲劳和失效,进而影响卫星的正常工作.利用中科院上海技术物理研究所研制的温度循环设备TCE-a,模拟了真空环境下的斯特林制冷机的开关机模式,发现了In焊凸点的两种失效模式.运用有限元方法,对In焊凸点的失效进行了力学分析.

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