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1976年底日本日立公司把塞曼效应应用于原子吸收分光光度计,成功地扣除了背景干扰。由于它能够自动完成背景和光源强度变化的同时校正,可用于复杂样品的直接分析,避免复杂的化学前处理以及由于操作和试剂带入的沾污和损失,使测量结果准确可靠,目前国内已有几个单位研制成功了这类仪器。
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