|
光子学报 2005
Double-exposed Holographic Interferometry Diagnose in Microwave Plasma Thruster''''s Plume and Simulation by Computer
|
Abstract:
二次曝光全息术是诊断等离子体电子数密度的一个有效测量方法,具有非接触式测量及不受等离子体发光干扰等优点,根据阿贝尔变换公式,通过计算机应用matlab程序数值模拟了各种不同电子数密度状态下的等离子体干涉图,同时拍摄了航天器中微波等离子体推进器羽流的二次曝光全息图,再现了不同状态下的干涉图样,通过分析和对比两次干涉图,得出了羽流的电子数密度。