新型多功能电子散斑干涉仪的研制

电子散斑干涉计量术(Electronic Speckle Pattern Interferometry,ESPI)是变形场、应变场测量、振动分析及无损探伤的一种重要手段.最近,我们利用 ESPI 的新的研究成果,研制了新型多功能 SS-210电子散斑干涉仪,该 ESPI 仪采用单模半导体激光器作为光源,波长为830nm,额定功率为30mW.