用超高速光电采样技术研究半导体微波器件时域特性和频域特性

本文采用超高速光电采样技术研究了半导体微波器件和单片微波集成电路（ＭＩＭＩＣ）的时域特性和频域特性．阐述了该方法的原理及优越性，对时域波形进行了分析和修正．并利用ＦＦＴ技术将时域波形转换为频域图形，得到半导体微波器件的Ｓ参数．我们建立的系统测量可达１００ＧＨｚ以上