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光电导膜层的结晶系统、晶粒生长取向及晶粒度,是决定其光电导性能的基本因素.本文介绍了用扫描电镜、x射线衍射方法对氧化铅靶层的形貌取向晶粒度进行综合研究的结果,并对测量结果做了分析和讨论.
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