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在工程可靠性试验数据的统计分析中,关于可靠性指标的置信区间的获得是一个有实际意义的课题.这个问题历史上通常是对特定的分布作大量模拟计算,这种做法不但计算量大,而且随着寿命分布的不同必须另行重复模拟,使用极为不便,特别对某些我们所关心的指标,至今缺少较为理想的求置信区间的办法.例如,某些电子元件的寿命服从
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