Reproducible low-current resistive switching of metal/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt junctions with a point-contact top electrode
点接触金属/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt结构稳定的低电流电阻开关特性

利用自主开发的导电原子力显微镜控制Pt，W探针构成点接触金属/Pr0.7Ca0.3MnO3（PCMO）/Pt三明治结构，对其电流-电压（I-V）及脉冲诱导电阻开关（EPIR）特性进行了研究.研究发现，在10 nA限流下两种电极对应结构的I-V都表现出相当稳定的双极性电阻开关特性，以及大于100的电阻开关比.进一步测试发现，点接触W/PCMO/Pt器件具有在10 nA限流下稳定的EPIR特性以及100 pA限流下重复的双极性电阻开关特性.此电流比已报道的电流低3个数量级，表明此结构在低功耗存储器件方面的潜在应用.通过对比样品不同位置、不同限流、不同接触面积点接触Pt/PCMO/Pt的I-V回滞特性，把点接触器件在低电流下稳定、显著的电阻开关效应归结于小的器件面积导致强的局域电场加强了O离子迁移效应.