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ISSN: 2333-9721
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物理学报  2007 

Experimental study of residual stress of galvanized passive film based on XRD
基于XRD的镀锌钝化膜残余应力试验研究

Keywords: X-ray diffraction (XRD),galvanized passive film,bonding strength,residual stress
X射线衍射法(XRD)
,镀锌钝化膜,结合强度,残余应力

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Abstract:

利用XRD技术测试了镀锌钝化膜结合界面的残余应力,同时通过电解抛光法检测了其厚度方向残余应力的分布规律,分析了残余应力对镀锌钝化膜结合强度的影响. 试验结果表明,镀锌钝化膜的残余应力均表现为压应力,并随着基体表面残余应力的增大而减小;钝化膜在2—10μm厚度方向的残应力为-274.5—-428.3MPa,其应力为梯度分布;镀锌钝化膜与基体的界面结合强度与其残余应力成反比,减小薄膜残余应力,有利于提高镀锌钝化膜与基体的结合强度.

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