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ISSN: 2333-9721
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物理学报  2007 

Thickness effect on structure and magnetic properties of La0.8Ca0.2MnO3/SrTiO3 films
La0.8Ca0.2MnO3/SrTiO3薄膜厚度对其结构及磁学性能的影响

Keywords: X-ray diffraction,microstructures,strain,physical properties
X射线衍射
,微结构,应变,物理性能

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Abstract:

采用多种X射线衍射技术和磁电阻测量技术研究了不同厚度的La0.8Ca0.2MnO3/SrTiO3(LCMO/STO)薄膜的应变状态及其对磁电阻性能的影响.结果表明,在STO(001)单晶衬底上生长的LCMO薄膜沿00l]取向生长·LCMO薄膜具有伪立方钙钛矿结构,随着薄膜厚度的增加,面内晶格参数增加,垂直于面内的晶格参数减小,晶格参数a和b相近,略小于c·LCMO薄膜内处于应变状态,由于薄膜与衬底的晶格失配,LCMO面内受到拉应力,垂直于面内受到了压应力·LCMO薄膜在qz方向存在轻微的镶嵌结构,并且在qz方向LCMO薄膜与STO衬底存在约0.1°的取向差.薄膜的磁电阻与薄膜的应变状态密切相关,随着薄膜厚度的增加,磁电阻减小.

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