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ISSN: 2333-9721
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物理学报  2009 

Effect of annealing pressure on the structure and ferroelectric properties of Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films
退火气压对Bi3.25La0.75Ti3O12铁电薄膜的微观结构和铁电性能的影响

Keywords: Bi3.25La0.75Ti3O12,,铁电性能,,sol-gel法,,正交化度

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Abstract:

采用sol-gel法在Pt/TiO2/SiO2/p-Si(100)衬底上制备了Bi3.25La0.75Ti3O12(BLT)铁电薄膜,研究了在750 ℃时不同退火气压(pO2:10-4—3 atm)对薄膜微观结构和电学性能的影响.XRD和拉曼光谱结果表明在10-4和3 atm氧气压下退火

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