X-ray microscopic imaging of low Z material wrapped by strongly absorbing medium
强吸收介质内部低Z材料结构的X射线显微成像研究

惯性约束核聚变靶室靶丸位置的原位无损检测是目前的研究热点和难点.针对此需求，建立了强吸收介质包裹的低Z材料X射线显微成像物理模型.通过计算机模拟和实验，较为系统地考察了光子能量、成像距离以及强吸收介质尺度等参量对成像质量的影响.结果表明，利用X射线相衬成像技术来实现惯性约束核聚变靶室靶丸的高分辨无损检测是可行的.