XRD AND SEM STUDY ON THE PHASE SEPARATION AND CRYSTALLIZATION BEHAVIOR FOR AN AMORPHOUS Cu+ CONDUCTOR
非晶态Cu+导体分相和晶化行为的XRD和SEM研究

对非晶态Cu+快离子导体0.4CuI-0.3Cu2O-0.3P2O5在等温热处理条件下测量离子电导率的同时,进行了X射线衍射(XRD)与扫描电子显微术(SEM)研究。结果表明:初始的非晶态材料是分相的;随着等温热处理,分离的非晶第二相逐渐消失,并发生非晶态晶化;晶态的γ-CuI与Cu2P2O7先后析出,逐渐长大。此材料的分相和晶化行为同电导率反常性的对应,再一次证实了非晶态快离子导体中的相界效应及其普遍意义。