一种改进的运动学低能电子衍射和数据平均方法及其在Cu(001)1×1表面上的应用

本文对现有的运动学低能电子衍射(KLEED)和数据平均方法(CMTA)进行了全面的分析与评述,指出这一方法有很好的应用前景,并对已有的方法进行了重大的改进,建立了一整套实用的KLEED和CMTA表面分析新方法,在Cu(001)1×1表面上的应用使这一新方法得到充分的验证。结果表明:KLEED和CMTA方法是一种简单、有效、可靠的表面结构分析方法,且具有很高的表面灵敏度。