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在0.4—0.8微米波长范围测量了助熔剂法生长的Bi-YIG系列单晶自然晶面和内部切面的克尔磁光旋转谱,讨论了Bi对磁光旋转的影响,以及从克尔效应作为一种分析工具观察到的晶体内部的不均匀性。
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