THE DETERMINATION OF DEBYE CHARACTERISTIC TEMPERATURES OF CRYSTALS FROM X-RAY DIFFRACTION INTENSITIES
从X射线的衍射强度测定晶体的德拜特征温度

本文详尽地讨论了从X射线衍射强度测定均匀的且各向同性的晶体的德拜特征温度的方法。本方法指明:如将所有的计算强度对观察强度之比的自然对数In(Icalc/Iobs)对sin2θ/λ2标绘,则应该得到一条直线,这条直线的斜率为2B。在德拜的比热理论中,B可表示为(6h2T/MkΘD2){φ(x)+(x/4)},其中x=ΘD/T。如使G=BMkT/6h2,则φ(x)+x/4=Gx2,既然已求得了B值,则这个方程式中的G是一个可量度的数。求解这个方程式可用图解法来进行。使y1=Gx2,而y2=φ(x)+x/4,则从这两个方程式的标绘可以得到两条曲线,这两条曲线的交点就是所要测定的x值,由x值可确定在测定温度时的特征温度。必须指出,由于ΘD本身是温度的一个函数,本方法提供了一个在所需要的温度测定德拜特征温度的可能性。