IMAGE DECONVOLUTION IN HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY BY MAKING USE OF SAYRE''S EQUATION
用Sayre等式复原高分辨电子显微象

随着高分辨电子显微学的迅速发展,用电子显微镜直接观察结构细节的工作已取得不少进展。目前拍摄结构象需要从实验中选择最佳欠焦条件,为此还需要对试样的结构预先有个基本的了解。这就局限了结构象技术的应用。如果能够从一张显微图中设法求出离焦量、球差和色差等象差,则有可能免去上述限制,而且还有可能进一步改善结构象的