EXAFS测量中“负峰”现象的研究

在进行EXAFS测量时,需用晶体单色器对入射X射线进行分光。对于非同步辐射光源,所得到的应是光源的连续谱和叠加其上的靶及杂质的特征线。但在实际测量中还经常发现“负峰”出现,它对测量的EXAFS及其它X射线谱会产生干扰。本文报道了实验观察结果,用多重衍射效应对此现象作了解释,并讨论了消除“负峰”的方法。