用电子显微镜直接观察石墨薄膜中的位错网络和水纹图

石墨中位错的电子显微镜观察的研究不但可以了解石墨晶体中位错的结构,而且有可能对于石墨的辐照效应提供有用的知识。 本文报导用电子显微镜观察石墨晶体中的各种位错结构所得到的一些初步结果。观察是在民主德国SEM-3型电子显微镜上进行的。仪器的分辨本领是20—30埃。所用的高压是60—80千伏。