CHARACTERISTICS OF BURST OPENING OF Kv IN HYPOTHALAMIC NEURONS WITH TEMPERATURE RAISING
温度诱导的下丘脑神经元Kv簇状开放的特性

采用膜片钳细胞贴附式技术 ,观察和记录了32℃、37℃和39℃时下丘脑神经元电压依赖性K +单离子通道 (Kv)的活动 ,探讨Kv簇状开放 (Burstopening)与开放概率的关系。结果表明 ,温度升高时 ,单位时间内记录到的Burst开放明显增多 ,开放概率NPo从37℃时的0.175±0.124升至39℃时的0.696±0.187(P<0.01)。明显影响NPo的Burst开放有关参数包括Burst内部的开放数目和两个Burst开放的间期。温度升高 ,Burst开放内部开放数目增多 ,两个Burst开放间期明显缩短 ,39℃时出现较多的近Burst开放