神经组织荧光扫描显微光度测定方法研究

用荧光显微光度计测定神经元胞体或末梢荧光,目前流行的方法,是在显微观察下手动选择切片测区,以测定值减去背景光度值来代表测区的平均荧光强度。这一方法对技术和设备的要求不高,有利于推广应用。但是,当研究结构比较复杂的神经组织时,上述方法就难以保证样本的代表性;以为数不多的数据代表组织总体荧光值,难免有偏差。又由于多种因素影响,单次荧光显微测定值总有不容忽视的随机误差。此外,仅以平均荧光强度作为神经组织总体荧光的测定指标,也不够全面。作者在神经组织荧光的定量研究中,采用了多切片