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电阻抗成像中高速高精度数字相敏检波器设计

Keywords: 电阻抗成像,数字相敏检波器,信噪比,现场可编程门阵列

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电阻抗成像对测量系统的精度和速度都有较高要求,为此研制了基于现场可编程门阵列(fieldprogrammablegatearray,FPGA)的数字相敏检波器(digitalphasesensitivedetector,DPSD)用于电阻抗成像的数据测量。在分析DPSD原理的基础上,推导出信噪比与采样点数和采样分辨率的关系。给出了测量系统的实现方案,提出了基于直接数字频率合成(directdigitalsynthesis,DDS)技术的模数转换器(analogtodigital

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