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ISSN: 2333-9721
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红外  2006 

用红外热成像系统测量薄膜厚度的方法

Keywords: 薄膜厚度,系统测量,红外热成像,薄膜涂层,表面功能,经济效益,涂层厚度,均匀性

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Abstract:

薄膜涂层通常是用来保护表面或增强表面功能的。为了提高涂层的经济效益,涂层的厚度有变小的趋势。随着厚度的变薄,涂层厚度的均匀性就变得越来越重要了,因此就需要对涂层进行测量。

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