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ISSN: 2333-9721
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基于统计模量和局部近邻标准化的局部离群因子故障检测方法

DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2017092310

Keywords: 统计模量,局部近邻标准化,局部离群因子,多工况,半导体过程

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摘要 针对多工况过程数据的批次不等长、中心漂移、工况结构不同等特点,提出基于统计模量和局部近邻标准化的局部离群因子故障检测方法(SP-LNS-LOF)。首先计算每个训练样本的统计模量;然后使用局部近邻集标准化统计模量,得到标准样本;最后计算标准化样本的局部离群因子,并将其作为检测指标,将局部离群因子的分位点作为检测控制限,当在线样本的局部离群因子大于检测控制限时,判定其为故障;否则为正常。统计模量提取过程的主要信息,且消除批次不等长的影响;局部近邻标准化克服工况中心漂移和工况结构不同的困难;局部离群因子度量样本的相似度,实现故障样本和正常样本的分离。进行了半导体蚀刻过程故障检测仿真实验,实验结果表明SP-LNS-LOF检测出了全部21个故障,比主元分析(PCA)、核主元分析(kPCA)、基于k近邻的故障检测(FD-kNN)、局部离群因子(LOF)方法具有更高的检测率。理论分析和仿真实验说明SP-LNS-LOF方法适用于多工况过程故障检测,具有较高的故障检测效率,能保证多工况生产过程的安全性

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