关于分片检验的若干讨论

分片检验(patch test)是由Irons 1965年首先提出的。作为检验有限元收敛的标准之一,它被广泛地使用。它之所以得到如此广泛的应用,其原因是:它简单明了,易于验证,使用方便;大量的实践说明了它的有效性,很多收敛的单元通过它,也有不收敛的单元不通过它;Strang 1972年给出了通过“分片检验”就收敛的证明