x射线法测量微晶玻璃残余应力的误差分析

？探讨了x射线法测量微晶玻璃残余应力的原理及该方法对残余应力值精确度的影响。采用不同的衍射角对微晶玻璃的应力进行测试,对应力结果进行了比较,分析了应力产生误差的原因。发现选择较高的衍射角并延长衍射时间,测试中各应力值点与用最小二乘法所拟合出的直线之间的偏差较小,这说明各点的线性和相关性较好,可以减小x射线法残余应力测试的误差。