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物理化学学报 2011
具有低表面自由能有机介电薄膜的制备及表征Keywords: 有机镀膜,纳米薄膜,疏水,表面自由能,介电薄膜 Abstract: 通过自主开发的有机镀膜技术在mg-mn-ce镁合金表面制备了具有低表面自由能和较高介电常数的有机纳米薄膜.利用x射线光电子能谱(xps)分析了表面有机镀膜过程的反应机理,借助傅里叶变换红外(ft-ir)光谱进一步确认表面有机膜层的存在,采用接触角测量仪测定了有机薄膜的蒸馏水接触角和表面自由能变化,使用椭圆偏振光谱仪研究了薄膜的厚度,并借助精密阻抗分析仪评价了薄膜的介电性能.有机镀膜后镁合金表面形成了一层纳米级厚度的有机薄膜,接触角从基体的70.8°上升至150.5°,表面自由能从基体的37.96mj·m-2降低到1.57mj·m-2,镁合金表面从亲水性转变为疏水性;薄膜的厚度和质量随有机镀膜时间延长先增加后有所减小,在镀膜20min时薄膜性能最佳,此时膜重达到23.5μg·cm-2,膜厚最大为147.48nm,其相对介电常数也达到最大,在1khz下可达24.922.
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