受损限幅器的非线性效应对成像雷达的影响

？在复杂电磁环境下，当电子学系统的关键器件遭受功能或物理损伤而发生非线性效应时，会导致电子学系统的探测性能下降，严重时可能使系统无法实现预期的功能。以一种对地成像雷达的限幅器为对象，研究了限幅器损伤后的非线性特性信号模型构建方法，较为深入地研究了它对雷达信号处理的影响。理论和仿真分析结果表明，典型电子学系统在关键器件发生非线性变化的情况下，会明显降低成像雷达的性能，如成像不能聚焦和分辨率下降等。