应用x射线定向仪测定晶面指数和取向的简便法

？本文介绍在ｘ射线定向仪上用ｃｕｋ辐射的两种特征谱线，对同一晶面衍射所获得的θκα１－θκβ角差δ进行测定，并与已计算好的δ－ｄ表进行对照，从而达到测定晶面指数和取向的目的．一、原理和方法ｘ射线定向仪通常用来精确测定晶片表面与已知晶面的取向偏离．对于未知晶面，采用常规方法测定θｈｋｌ值是不可能的．然而利用ｘ射线ｋα１和ｋβ对同一晶面的衍射角差δ来反推相应的θｈｋｌ值是方便的．因为不管实际晶片表?...