非对称几何控制图在质量控制中的应用

在质量控制过程中,对于检测不合格率p的变化,特别是p较小时,基于几何分布的控制图(g-typechart)比基于二项分布的控制图(p-chart或np-chart)能更有效地检测并报警.但几何控制图经常会出现下限LCL为零的情况,而由于检测产品数的非负性,当LCL为零时,几何控制图就不会出现报警,因而此时对检测p的增加几乎是没有效果的.该文提出非对称控制图的思想,解决了零下限的问题,而且非零下限有效地提高了控制图p增加时的检测能力,其受控平均运行长度ARL和对称(传统)的控制图几乎相同.得到的数据可以在实际应用中确定控制限.