磁控溅射PET非织造基银膜的微结构及性能

为研究PET非织造基银膜的结构及性能，在室温条件下，用磁控溅射法在PET非织造布基材上制备了25、50、75、100nm4种不同厚度的Ag薄膜，由X射线衍射对薄膜微结构测试分析得知：制备的Ag薄膜均呈多晶态，晶体结构均呈面心立方；随着膜厚的增加，薄膜的平均晶粒尺寸逐渐增大。薄膜的光谱和导电性能测试表明：PET基银膜存在临界膜厚，在临界膜厚范围内，随着膜厚的增加，薄膜的反射率急剧增强，透射率快速下降，但达临界膜厚后，反射率和透射率随膜厚的变化趋于平缓；随着膜厚的增加，薄膜的导电性能明显提高。