感光胶片中银含量和卤素比的X射线荧光光谱分析

感光胶片的银含量和卤化银比例(简称卤素比)测定是胶片制造工艺中两项重要的物化分析.目前国内多采用电位滴定法[1,2]进行测量,不仅操作复杂费时,而且速度和准确度均不够理想.本文主要介绍X射线荧光光谱法在银含量和卤素比测定中的应用.这种新方法不但迅速准确,而且无需制样,各类胶片均可直接测定.